電鏡掃描，即掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）的工作原理，可以詳細分為以下幾個步驟：

　　電子源產生電子束：

　　掃描電鏡中的電子源通常采用熱陰極發射電子的方式，如熱絲或者熱發射陰極。

　　當電子源受到加熱時，電子會從陰極表面發射出來，形成電子束。電子源的溫度和電流可以調節，以控制電子束的強度和穩定性。

　　電子束的加速和聚焦：

　　電子束經過加速電場，使其獲得足夠的能量。

　　然后，通過電磁透鏡系統（可以是磁透鏡或電透鏡）對電子束進行聚焦，以獲得較小的束斑尺寸。聚焦系統的作用是使電子束盡可能地細致和聚焦，以提高分辨率。

　　電子束與樣品的相互作用：

　　將要觀察的樣品放置在掃描電鏡的樣品臺上，并調整樣品的位置和傾斜角度。

　　當電子束照射到樣品表面時，它與樣品中的原子和分子相互作用，產生多種信號，包括二次電子、背散射電子、散射電子、透射電子、特征X射線等。這些信號提供了關于樣品表面形貌、成分和結構的信息。

　　信號的檢測和處理：

　　掃描電鏡使用多種探測器來收集這些信號，并將其轉換為電信號。

　　收集到的信號經過放大、濾波、增益等處理后，可以轉換為數字信號，并通過計算機處理和顯示。

　　影像的生成和顯示：

　　電信號經過處理后，通過計算機系統生成樣品的影像。

　　這些影像可以以黑白或者彩色的形式顯示在顯示器上，供操作者觀察和分析。

　　成像原理：

　　掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區的特征（如形貌、原子序數、化學成分、或晶體結構等）的差異，在電子束作用下通過試樣不同區域產生不同的亮度差異，從而獲得具有一定襯度的圖像。

　　成像信號主要是二次電子，它們能夠反映樣品表面形貌差異的信息，即微觀形貌像。此外，背散射電子像可得到不同區域內原子序數差別的信息，即組成分布像；特征X射線分析則可以對特定的某微區元素做定性和定量的化學成份分析。

　　總結來說，掃描電子顯微鏡的工作原理是通過電子束與樣品表面的相互作用，收集產生的各種信號，經過處理后轉換為圖像，從而獲取樣品表面的詳細信息。這種技術具有高分辨率、大景深、動態觀察等優點，廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術等領域。