掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡，利用電子束與樣品相互作用并檢測所產(chǎn)生的各種信號來觀察樣品的表面形貌和組成。
 

　　掃描電子顯微鏡的工作原理：
 

　　1、電子源：使用的電子源通常是熱發(fā)射陰極或場發(fā)射陰極，通過加熱或施加高電壓來產(chǎn)生高能電子。
 

　　2、聚焦系統(tǒng)：聚焦系統(tǒng)由幾個透鏡組成，用于控制電子束的聚焦和定位。
 

　　3、高真空環(huán)境：工作時需要在高真空環(huán)境中進(jìn)行，以避免電子束與氣體分子的碰撞散射，影響圖像質(zhì)量。
 

　　4、樣品臺：樣品被放置在樣品臺上，可以水平或傾斜放置，以便于不同角度的觀察和分析。
 

　　5、掃描線圈：掃描線圈用于控制電子束的掃描范圍和速度，通過逐點(diǎn)掃描樣品表面來獲取圖像。
 

　　6、檢測系統(tǒng)：當(dāng)電子束與樣品交互作用時，會產(chǎn)生多種信號，包括二次電子、反射電子、散射電子和X射線等。這些信號被檢測器捕獲并轉(zhuǎn)換為電信號。
 

　　7、顯示與記錄系統(tǒng)：經(jīng)過放大、處理和轉(zhuǎn)換后的電信號可通過顯示器展示，并可用于數(shù)字圖像記錄和分析。
 

　　掃描電子顯微鏡的儀器結(jié)構(gòu)：
 

　　1、電子源：通常是用鎢絲或石墨作為陰極的熱發(fā)射電子槍，或者采用針尖形式的場發(fā)射電子槍。
 

　　2、準(zhǔn)直系統(tǒng)：準(zhǔn)直系統(tǒng)由一系列聚焦和透鏡組成，用于將電子束聚焦到樣品表面上的一個小點(diǎn)。
 

　　3、樣品臺：樣品臺提供樣品支撐和位置調(diào)節(jié)功能，并通常具有旋轉(zhuǎn)和傾斜能力，以便于不同角度的觀察和分析。
 

　　4、掃描線圈：掃描線圈控制電子束的移動，沿著樣品表面進(jìn)行逐點(diǎn)掃描，以獲取完整的圖像。
 

　　5、檢測系統(tǒng)：檢測系統(tǒng)包括二次電子檢測器和反射電子檢測器。二次電子檢測器用于獲取樣品表面形貌信息，反射電子檢測器則用于獲取樣品的晶體結(jié)構(gòu)和成分信息。
 

　　6、控制與顯示系統(tǒng)：控制系統(tǒng)用于控制SEM的各個參數(shù)和操作模式，顯示系統(tǒng)用于將獲取的圖像顯示在監(jiān)視器上。
 

　　掃描電子顯微鏡通過將高能電子束聚焦到樣品表面，并探測所產(chǎn)生的信號，實(shí)現(xiàn)對樣品的高分辨率觀察和分析。其儀器結(jié)構(gòu)包括電子源、準(zhǔn)直系統(tǒng)、樣品臺、掃描線圈、檢測系統(tǒng)和控制與顯示系統(tǒng)。在材料科學(xué)、生命科學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用，為研究者提供了一種強(qiáng)大的工具來研究微生物。