由于硬件和軟件要求，整合問題可能會出現，使得過程復雜且耗時。

軟件不兼容通常需要在不同的界面之間切換，從而中斷工作流程并增加出錯的可能性。

從兩個獨立系統同步和下載數據可能會很繁瑣且容易出現不準確，需要手動操作和關聯。

處理多個供應商的技術支持和維護變得更加復雜，導致問題解決的延遲。

每個系統的專門培訓增加了使用人員的學習時間。

校準和標準化則需要額外的專業知識以確保數據的準確和可靠。


賽默飛為科研用戶提供了一個整合方案——ChemiSEM

ChemiSEM技術結合了掃描電鏡 (SEM) 和與 X 射線能譜 (EDS)，可簡化對金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟材料等多種材料的復雜分析。
 

1、更優的用戶體驗  

ChemiSEM通過一個軟件系統同時進行SEM和EDS分析，大大減少了新用戶學習時間，使得分析更加順暢，延長了機器的有效機時，在同樣的時間里分析更多的樣品。  

2、強大的分析性能  

ChemiSEM技術可實時自動處理原始信號，生成定量圖。對數據進行解卷積，避免出現和峰和重疊峰，并去除背景；全新功能ChemiPhase可以利用實驗數據中所有具有統計學意義的譜圖對每個相位進行系統性的識別，而不依賴于對樣品的預先假設；不僅如此，ChemiSEM技術通過持續監測樣本位置，可自動校正樣本漂移。  

3、可靠的數據質量  

ChemiSEM技術提供了智能、全自動化的自動ID優化、數字峰值擬合和矩陣校正程序，使各類用戶都能獲得可靠的結果。隨著數據的累積，一系列統計驗證程序將持續自動對數據進行建模和優化，讓用戶安心使用。  

4、多樣的搭配機器  

ChemiSEM技術將來可搭載ThermoScientific™Axia™、Apreo™2和Quattro™掃描電鏡，滿足不同類型用戶的需求。