關聯顯微鏡 加速決策蔡司工業顯微鏡電子行業解決方案

蔡司能夠提供與電子行業應用相關的各種顯微鏡產品組合，不同類型的顯微鏡覆蓋了從微米到納米不同尺度的觀察范圍，同時覆蓋了表面二維以及三維的成像與分析。借助X射線顯微技術以及FIB 技術，能夠實現對電子產品從有損到無損的高分辨觀察與分析。在這里，您能獲得一站式的顯微產品解決方案。

低倍大視野下的外觀檢查

更高變倍范圍的外觀檢測

表面超景深高分辨3D成像

金相切片的觀察與測量

表面微納結構三維與粗糙度測量

日常檢測與失效分析(SEM)

低電壓高分辨納米級成像與分析(FESEM)

用于截面制備、透射制樣以及線路修補(FIB）

更快獲取高質量橫截面的新方法(Laser-FIB)

無損亞微米級內部三維成像

實驗室顯微鏡數據的互聯與共享