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手動探針臺的配件選擇與使用技巧
手動探針臺是一種用于精確測量和定位的儀器，廣泛應用于實驗室、制造業和科學研究等領域。它主要用于電路板、元器件和芯片等微小尺寸的測試，通過調節高度和精確移動，使操作者能夠方便、準確地進行測量和接觸測試點。本文將詳細介紹手動探針臺的配件選擇和使用技巧。
主要組成與配件
1.主要組成
-工作平臺：提供穩定的操作基礎。
-顯微鏡：用于觀察和精確定位樣品。
-探針座：固定和調整探針的位置。
-卡盤：用于固定樣品，通常具有真空吸附功能。
-X-Y-Z軸移動控制旋鈕：用于精細調節探針或樣品的位置。
2.關鍵配件選擇
-顯微鏡：選擇高分辨率的顯微鏡，確保能清晰觀察到待測點。
-探針座：根據需要選擇多探針座，以適應不同的測試需求。
-探針：選擇適合的探針類型（如射頻測試探頭、有源探頭等），并確保其質量符合標準。
-卡盤：選擇平整度高、吸附力強的卡盤，以確保樣品固定牢固。
使用技巧
1.準備工作
-確保工作區域清潔整齊，無干擾物。
-將手動探針臺放置在穩定的表面上，并確保其調節旋鈕或螺絲可以自由移動。
2.調節高度和位置
-根據樣品的高度，使用高度調節旋鈕將探針臺的平臺調整到適當的高度。
-確保平臺平穩且水平，以便在測量過程中保持穩定。
3.定位和固定樣品
-將要測量或處理的樣品放置在探針臺的卡盤上。
-開啟真空閥門控制開關，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
4.顯微觀察和定位
-使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
-切換顯微鏡至高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調節清晰，帶測點在顯微鏡視場中心。
5.調節探針位置
-確認好待測點位置后，調節探針座的位置，將探針移到接近待測點的位置旁邊。
-使用探針座X-Y-Z三個微調旋鈕，慢慢將探針移至被測點。動作要小心且緩慢，以防誤傷芯片。
6.接觸測試
-當探針針尖懸空于被測點上空時，先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進行下針。最后使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經接觸。
-確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設備開始測試。
維護和保養
-避免碰撞：在安裝和操作時，應避免碰撞，機體放置需平坦，不可傾斜或橫倒，避免機器發生故障或異常異音。
-運輸注意：儀器運輸時，請先拔掉電源線插頭，并使用專門的包裝箱，避免碰到探針臺的任何運動部件。
-定期清潔：使用完后需要注意保持清潔，盡量把灰塵吹干盡，以免灰塵將機械精密部件、光學部件、電學接觸面污染，導致儀器精度降低。清潔時，避免直接潑水清理，應以無塵布輕輕擦拭并吹干即可。
-光學部件清潔：光學部件清潔時，可用鏡頭紙蘸酒精從中間向外輕輕擦拭。酒精易燃，注意使用安全。