瑞士梅特勒METTLER 電子天平XPR226CDR/AC的特點

瑞士梅特勒METTLER 電子天平XPR226CDR/AC的特點

每次均可獲得可靠的結果.XPR分析天平，最大秤量121/220 g，可讀性0.005/0.01 mg，7''電容式彩色觸摸屏，用戶管理，靜電檢測，自動內部校正且配有LabX

確保一次性稱量準確

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保滿足正確稱量的所有相關條件。

StaticDetect靜電檢測

由于具備StaticDetect靜電檢測功能，XPR微量分析天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。

隨時可進行審核

將XPR分析天平連接至LabX軟件，為法規遵從和數據完整性提供全面支持。

核心技術參數與性能

1. 雙量程超微量精度

量程與可讀性：支持220g/0.01mg（標準量程）和121g/0.005mg（超微量模式）雙量程切換，最小稱量值（USP 標準）低至8mg，比傳統天平節省 30% 樣品用量。

傳感器技術：采用MonoBloc 單模塊傳感器（無焊點整體式設計），抗沖擊能力提升 3 倍，過載保護達量程的 5 倍，配合SmartGrid 動態溫度補償，可在 ±15℃/ 小時的溫變環境下保持稱量≤0.02% FS。

2. 自動化加樣系統

粉末 / 液體雙模式：標配Q3 自動加樣模塊，支持自由流動粉末（如 API 原料）和低粘度液體（如電解液）的自動分配，最小加樣量低至0.4mg（1% 允差），≤0.5%。

智能路徑規劃：內置3D 動態算法，根據樣品特性（如顆粒度、流動性）自動優化加樣軌跡，避免結塊或飛濺。例如，在鋰電池極片涂布測試中，可實現 0.1mg 級漿料分配。

3. 靜電消除與抗干擾設計

StaticDetect + 離子發生器：集成方波信號檢測技術，實時監測靜電荷，當干擾超過閾值時自動報警，并通過內置離子發生器（物料號 30460823）在 3 秒內消除電荷，確保微量稱量的準確性。

雙重屏蔽系統：采用內層鋁箔 + 外層鍍錫銅編織網（覆蓋率≥90%），配合金屬外殼屏蔽，整體屏蔽效能達80dB 以上，可在電機驅動、焊接設備等強電磁環境下穩定工作。