隨著人們對電子產品的依賴程度越來越高，各大廠商開始不斷開發具有新功能的產品，這使得消費者日趨頻繁地對電子產品進行更新換代，電子產品的壽命也變得越來越短，而這也導致需要處理的廢棄電子產品數量不斷上升，盡管人們已經開始實施并大力推廣電子產品回收計劃。

電子產品中包含許多組件，一旦被丟棄，產品中的金屬極可能會進入環境中。其中令人擔憂的有毒金屬包括鎘（Cd）、鉻（Cr，主要是六價鉻[CrVI]）、汞（Hg）和鉛（Pb）。為了解決這一問題，危害性物質限制（RoHS）指令規定了鎘、六價鉻、汞和鉛在每種電子設備中允許存在的高含量，具體如表 1 所示。

為了達到 RoHS 指令要求，簡單也的方法是使用微波消解制樣，并使用全譜直讀等離子體發射光譜儀（ICP-OES）進行分析。盡管 ICP-OES 不連接液相色譜儀無法區別元素的不同形態，但是它能夠測量鉻的總含量，以確定其是否超過規定水平。如果超過限值，則可以進一步制樣，并采用其他技術手段分析樣品，終確定六價 Cr 的含量。

 

本文將重點關注如何使用 ICP-OES 分析電子產品中的多種樣品類型，以確保符合 RoHS 指令要求，以及制樣注意事項。