高純度精煉的鎵(Ga)是半導體化合物砷化鎵的主要原料,可用作高溫溫度計的填充物、溫度標準物質及熔點較低的合金材料,是現代電子產業*的元素之一,隨著高純度鎵的需求增大,對雜質含量的檢驗成為*的環節。
本實驗介紹了分析高純度銦和鎵中雜質的ICP-OES方法。
提供商 |
珀金埃爾默企業管理（上海）有限公司 | 下載次數 |
70次 |
資料大小 |
527.9KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數 |
1588次 |
17
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務