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X射線熒光分析的基本原理
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。
從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠 能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發了，處于激發態，這時，其他的外層電子便會填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發出 X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線 的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
量子力學知識告訴我們，X射線具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作電磁波。看作粒子時的能量和看作電磁波時的波長有著一一對應關系。這就是著名的 普朗克公式：E=hc/ λ。顯然，無論是測定能量，還是波長，都可以實現對相應元素的分析，其效果是*一樣的。