一鍵式測量儀的發(fā)展及原理與構成

一鍵式的發(fā)展歷程：

一鍵式測量儀又被稱作閃測儀，快速測量儀，是一種快速，簡單，智能批量測量工件二維平面尺寸的儀器。其核心優(yōu)勢在于能夠快速的匹配測量小型的精密零件。那么一鍵式測量儀是如何出現的？

接觸式工具測量是最初使用的工業(yè)尺寸測量工具（卡尺，千分尺，高度規(guī)等），但是隨著工業(yè)產品的發(fā)展，測量的種類的要求增多，接觸式測量工具比較單一且測量量增大，工廠產品的測量不能滿足現在的測量種類和效率，因此開發(fā)了工業(yè)投影機。

工業(yè)投影機是早期允許使用工業(yè)尺寸測量的非接觸式工具。它是通過透鏡、物鏡和光源，將被測量物體的三維形狀投影到二維平面的屏幕上，并將投射圖像與標準圖像對比，從而確定待測物的尺寸，位置，形狀等參數。隨著工廠產品的測量不能滿足現在的測量精度與效率，因此開發(fā)了影像測量儀器。

影像測量儀又分手動影像測量儀，半自動影像測量儀和全自動影像測量儀，影像測量儀的歷史悠久，但是在工業(yè)不斷發(fā)展的大環(huán)境下，對影像測量儀提出新的測量要求。

雖然影像測量儀的測量精度和速度都有了很大的提高，但是測量原理仍然通過光柵尺讀數，需要逐個產品擺正或建立產品的坐標以及頻繁的對產品進行對焦，少量產品及單個尺寸可以很多的測量，但是如果需要全尺寸、全批次檢測的話，測量大量的產品或者多尺寸的產品就要花費大量的時間和金錢。所以需要投入很多影像測量儀器，配備專業(yè)的測量人員。更重要的是，雖然投入了這么多，但測量效率卻無法提高，大量時間都花在了測量上。（可以舉例子：富士康，伯恩，長盈等）

為什么產品要一個一個測量？為什么我們不能通過多個產品進行一起測量？如何發(fā)展同時提高測量技術產品的多個不同尺寸？如何能夠確保精度的同時又能保證工程測量工作效率？如何讓測量方法更加簡單化，易操作？正是基于這樣的測量難點，一鍵式測量儀才能應運而生。

一鍵式測量儀的原理和結構組成：

一鍵式測量儀的核心硬件是由上下光源、高像素CCD相機、大視角大景深遠心鏡頭及固定載物臺組成，結構相對簡單。

一鍵式影像測量儀是一種新型的影像測量技術。它和傳統(tǒng)的工業(yè)投影機和影像測量儀不同的是它不再需要光柵尺作為精度標，也不經過大焦距的鏡頭經過放大產品影像來保障測量精度。一鍵式影像測量儀通過一個雙側的遠心鏡頭，修正光源造成的假象，使用物體不隨高低不同而扭曲，消除額外的測量誤差。將產品輪廓影像縮小數倍或數十倍后傳遞至幾百萬像素高分辨率CCD相機上做數字化處理，再由有著強大計算能力的亞像素細分技術將精度提到0.01像素，相當于提高100倍的系統(tǒng)分辨率。最后通過以高像素相機微小像素點行程的面補償校正技術，控制鏡頭畸變式產品成像更加真實，減少因鏡頭畸變引起的測量誤差。形成標尺進行對比后計算對尺寸公差評價