渦流陣列對比渦流檢測方法優勢有哪些

渦流陣列對比渦流檢測方法優勢有哪些

渦流陣列（ECA）是一種無損檢測技術，具有以電子方式驅動并排放置在同一個探頭組件中的多個渦流線圈的能力。探頭中每個單獨的渦流線圈都會產生一個相對于其下方結構的相位和波幅的信號。這種數據與編碼位置和時間關聯，并以C掃描圖像形式表示。大多數傳統的渦流探傷技術都可以通過使用渦流陣列（ECA）檢測重現，不過，ECA技術具有顯著優勢，可提高檢測能力，并大幅節省時間。

ECA技術包括以下優勢特性：

在保持高分辨率的同時，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區域。

不太需要復雜的機器人技術來移動探頭，只需簡單的手動掃查就足以完成檢測。

C掃描成像提高了缺陷探測和定量性能。

可以使用根據被檢測工件的輪廓定制的探頭對具有復雜形狀的工件進行檢測。

渦流檢測的好處

在涉及健康和安全的行業中，使用可探測材料缺陷的技術至關重要。在本小節中，我們將講述渦流檢測的好處：

對表面缺陷的靈敏度：最小的缺陷可能減弱碳或鋼等材料，從而違反某些安全標準。在有利條件下，渦流檢測設備可準確探測長度為0.5 mm (0.02 in.)的缺陷。

透過不同的層進行探測：如果您正在使用具有多層結構的原料，渦流設備可以探測多達14層深度的缺陷而不會受到平界面的干擾。

快速而又簡單：渦流是一種快速、簡單且可靠的檢測技術，是您在進行定期檢測并看重速度時的理想選擇。

測量原料電導率：渦流檢測可用于測量原料傳輸熱或電的能力。這可能是為特定應用選擇原料的關鍵因素。

絕緣涂層的測量：涂層測量需要準準確 度。準確的測量至關重要，因為涂層材料的損失可能往往會違反汽車和航空航天等行業的安全標準。渦流檢測因其普適性而成為一種測量絕緣涂層的實用方法—除了大多數絕緣涂層外，它還可以檢測陽極涂層。

使用高速旋轉掃查器和表面探頭進行快速孔檢測：有效的渦流孔檢測需要旋轉掃查器、旋轉探頭以及記錄和顯示結果數據的儀器。渦流設備因其速度和效率而成為進行NDT螺栓孔檢測廣受歡迎的選擇。

便攜性：渦流檢測設備小巧輕便，工作時攜帶方便。

設備可以自動化：使用自動化或半自動化設備可以快速準確地檢測相對均勻的工件。

非接觸式檢測：渦流檢測設備無需與被測工件接觸即可進行準確的測量。

渦流檢測的局限性

我們已經講述了渦流檢測的優勢，但了解其劣勢以確認它是否符合您的行業要求也很重要。以下是渦流檢測的局限性：

容易出現導磁率變化：導磁率的微小變化都可能使焊縫以及其他鐵磁性材料的檢測變得困難。

只對導電材料有效：渦流只能用于測量支持電流流動的原料。

無法探測平行于表面的缺陷：渦流的流動平行于表面。這意味著渦流檢測設備無法探測不與電流交叉或干擾電流的缺陷。

需要解讀信號：有許多因素可能影響渦流檢測。這就需要仔細解讀信號以區分相關和不相關的缺陷指示。

不適用于大塊區域：大塊區域的渦流檢測需要借助掃查設備。復雜的形狀也會增加區分缺陷信號和幾何形狀影響信號的難度。

渦流陣列檢測的好處

渦流陣列(ECA)是一種無損渦流檢測形式，它需要在檢測探頭中將以電子方式驅動的渦流線圈彼此相鄰對齊。每個線圈產生一個信號，信號的強度取決于檢測原料的相位和波幅。可以測量該信號，并記錄數據以進行檢測。

渦流陣列與其他渦流檢測方法相比有幾個優勢：

更快的檢測時間：用戶可以使用多線圈探頭一次完成原料掃查。這意味著掃查只需幾分鐘，比傳統的ECT和某些其他NDT方法（如磁粉檢測[MPT]）更快。

一次覆蓋更大的區域：使用多個線圈使用戶能夠一次完成檢測。單線圈探頭需要技術人員多次掃查原料。

簡化檢測：使用渦流陣列可降低移動探頭所需的機械和機器人掃查系統的復雜性。

檢測復雜形狀：渦流陣列探頭可以根據被測工件的輪廓進行定制。這減少了由復雜檢測原料引起的檢測局限性。

實時繪圖：渦流陣列技術提供被檢測區域的實時繪圖，便于數據解讀。

準確度更高：使用渦流陣列探頭可以提高可靠性和檢出率(POD)。

渦流陣列檢測用于一系列不同的行業。它可用于測量鋼的厚度以及探測腐蝕。渦流陣列的好處意味著多線圈探頭可用于各種各樣的原料，如容器、柱、儲罐和球體、管道系統以及結構應用。