英國泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO實物信息

核心技術特性

1. 多元參數測量能力

支持測量20 + 項粗糙度參數，覆蓋輪廓參數（如：

幅度參數：算術平均偏差 Ra、輪廓最大高度 Rz（ISO 4287）/ Rt（ASME B46.1）、均方根偏差 Rq

功能參數：輪廓支承長度率 Rmr(c)、偏斜度 Rsk、陡峭度 Rku

原始輪廓參數：Pa、Pz（適用于精密加工表面分析）

等），可滿足從基礎質量控制到復雜表面功能特性評估的多樣化需求。

2. 高精度測量性能

分辨率：0.01μm（0.4μin），滿足微米級精密測量需求

量程范圍：粗糙度參數（Ra）：0.01μm ~ 40μm

輪廓高度參數（Rz/Rt）：0.1μm ~ 199μm

傳感器動態范圍：200μm（垂直方向）

計量級精度：示值誤差：≤±5% 讀數 + 0.1μm（符合 ISO 3274 標準）

重復性：≤±2% 測量值 + 噪聲水平

濾波與評定標準：標配高斯濾波（Gaussian Filter），支持 ISO 11562 標準的 λs/λc 波長分離，確保測量結果的國際兼容性。

3. 智能操作與數據管理

快速測量模式：單次測量周期≤5 秒，支持連續掃描與定點測量雙模式

人機工程設計：分體式結構（顯示控制單元與驅動單元可拆卸），通過滑軌鎖定機制實現靈活組合，適配深孔、凹槽等復雜幾何特征測量

藍牙 5.0 無線通信（傳輸距離≤1 米），避免線纜干擾，提升現場操作便利性

交互界面：2.8 英寸彩色 LCD 觸控屏，支持中英文雙語操作界面

三鍵式物理按鍵（電源 / 測量 / 菜單），兼容戴手套操作

數據存儲與輸出：內置存儲器可存儲≥500 組測量數據（含參數曲線）

支持 USB-C 接口數據導出，兼容 Surtronic Desktop 軟件進行報表生成與趨勢分析