光源系統故障
氘燈或鎢燈損壞是核心問題。當儀器提示"能量太低"時,需優先檢查光源壽命。例如,氘燈在起輝瞬間閃動或燈絲發紅但無法正常起輝,通常因起輝電路故障或燈電流調整晶體管損壞。鎢燈失效表現為兩端電壓正常但燈不亮,需用萬用表檢測燈絲電阻。保險絲熔斷可能伴隨供電異常,需檢查電源電壓穩定性。
信號傳輸異常
通訊錯誤常源于數據線接觸不良。若自檢提示"通訊錯誤",應檢查RS232/USB接口連接狀態,確認軟件配置的COM口與實際端口匹配。零點漂移問題多見于簡易儀器,其炭膜電阻電位器因接觸不良導致,需更換高精度電位器。當吸光值出現負值時,需確認是否執行空白記憶操作,并檢查參比液與樣品液的吸光值關系。
光學系統故障
基線噪聲異常涉及多維度因素。全波長基線噪聲大時,需檢查光源鏡位置是否偏離入射狹縫中央,同時確認石英窗表面是否存在樣品濺射污染。紫外區噪聲突出時,需排查氘燈老化程度,或通過研磨濾光片消除結晶物。波長校準失敗時,可通過656.1nm特征譜線驗證,高檔儀器可調用自動校正功能,簡易儀器需專業人員調整波長傳動機構。
機械結構問題
樣品架定位偏差直接影響測量重復性。當吸光值信號擺動時,需檢查推拉式樣品架的定位碰珠是否磨損,或采用金屬活化劑清洗氧化觸點。光閘失效表現為T=100%無法調節,需檢查彈簧張力或清除異物卡阻。比色皿污染會導致紫外區吸光值異常,需用250nm波長檢測空比色皿吸光值,確保其小于0.07Abs。
日常維護中,建議每周開機預熱30分鐘,定期清潔密封窗及透鏡,使用石英比色皿并避免溶液濺入樣品室。環境濕度應控制在60%以下,必要時配備穩壓電源。故障排查應遵循"先外后內"原則,優先檢查電源、連接線等外圍部件,再逐步深入光學系統。
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