手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
摘要：
該研究的詳細情況發表在《應用光學》2012 年 1 月 10 日號（總第 51 卷，第二期）上。
測定薄膜和多層鍍膜的光學參數（使用光學鍍膜的逆向工程）對于生產高質量的產品至關重要。這些數據可以給設計和生產環節提供反饋。對每一層依次進行評估后得到的逆向工程結果可以用來調整沉積參數，重校監測系統，改善對各層的厚度控制。
通常是使用紫外-可見-近紅外 (UV-Vis-NIR) 或傅里葉變換紅外 (FTIR) 分光光度法進行光學表征，對透明基板上的薄膜樣品垂直入射或接近垂直入射時的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的數據進行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率測量的光學表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率測量數據的可靠的逆向工程仍然十分困難。
摘要：
該研究的詳細情況發表在《應用光學》2012 年 1 月 10 日號（總第 51 卷，第二期）上。
測定薄膜和多層鍍膜的光學參數（使用光學鍍膜的逆向工程）對于生產高質量的產品至關重要。這些數據可以給設計和生產環節提供反饋。對每一層依次進行評估后得到的逆向工程結果可以用來調整沉積參數，重校監測系統，改善對各層的厚度控制。
通常是使用紫外-可見-近紅外 (UV-Vis-NIR) 或傅里葉變換紅外 (FTIR) 分光光度法進行光學表征，對透明基板上的薄膜樣品垂直入射或接近垂直入射時的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的數據進行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率測量的光學表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率測量數據的可靠的逆向工程仍然十分困難。
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心