應用領域 | 能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
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局部放電(PD)測試作為評估高壓電氣設備絕緣系統健康狀態的核心手段,在保障現代電力電子設備可靠性方面發揮著不可替代的作用。其核心價值在于提前發現微觀絕緣缺陷、預防突發性擊穿故障、量化評估設備壽命。
關鍵測試領域深度分析
1. IGBT模塊 (能源轉換核心器件)
應用場景: 電動汽車(800V+高壓平臺)、軌道交通牽引變流器、風力/光伏發電變流器、工業變頻器、大功率UPS。
關鍵失效機理:
制造缺陷: 陶瓷基板/硅凝膠內氣泡、裂紋、雜質導致電場畸變。
封裝老化: 溫度循環、機械振動引發的分層、界面劣化。
動態應力: 高頻開關下陡峭的dv/dt加劇局部放電風險。
PD測試核心目標:
精準定位內部絕緣缺陷(基板、凝膠、界面),預防早期擊穿。
驗證高壓(數千伏)及動態開關工況下的長期絕緣可靠性。
預測模塊壽命,滿足IEC 61287、IEC 60076等嚴苛標準,避免批量風險。
應對SiC-IGBT等高功率密度器件帶來的更強電場挑戰。
2. 電子變壓器 (新能源與電力電子關鍵組件)
應用場景: 光伏逆變器輔助電源、高頻開關電源(工業/醫療)、新能源并網設備。
關鍵失效機理:
工藝損傷: 漆包線纏繞時絕緣層劃傷、折角應力破壞。
材料短板: 不同材質漆包線(聚酯、聚酯亞胺、聚酰胺酰亞胺)耐電暈性差異大,劣化產熱。
環境劣化: 溫濕度循環導致絕緣材料開裂、分層。
PD測試核心目標:
評估變壓器在高頻、復雜工況下的絕緣壽命與可靠性。
確保符合IEC 60270 (GB/T 7354)、IEEE 436等核心標準。
識別制造工藝缺陷(繞線損傷)和材料選型問題(耐電暈性不足),提升產品良率。
3. 電機定子及漆包線 (電動化核心動力部件)
應用場景: 新能源汽車驅動電機、工業自動化伺服電機、高效節能電機。
關鍵失效機理:
材料不均: 漆膜厚度波動導致局部電場集中。
電暈侵蝕: 不同耐電暈等級漆包線在高壓下老化速率差異顯著。
環境老化: 溫濕度、振動加速絕緣劣化,形成放電通道。
PD測試核心目標:
作為高壓電機(尤其電動車驅動電機)絕緣系統可靠性的核心評判依據。
滿足IEC 60034-18-42等電機專用絕緣評估標準要求。
實現漆包線批次質量篩選和定子制造工藝優化(如浸漆工藝),提升電機壽命。
4. 光耦合器 (高壓安全隔離關鍵元件)
應用場景: 電動汽車BMS/充電樁、智能電網設備、工業控制隔離接口、醫療設備安全柵。
關鍵失效機理:
材料缺陷: 硅膠/聚酰亞胺內部氣泡、雜質引發電場集中。
封裝風險: 填充不完整、微小氣隙(空氣光耦)形成放電點。
絕緣退化: 長期環境應力導致材料開裂、分層,喪失隔離能力。
PD測試核心目標:
預防隔離失效: 檢測絕緣缺陷,杜絕高壓竄入低壓側的安全事故。
驗證絕緣結構設計(爬電距離、電氣間隙)和封裝工藝可靠性。
確保符合光耦隔離安全標準IEC 60747-5-5。
為高可靠性應用(汽車、電網)提供關鍵元件準入篩選依據。
局部放電測試的價值總結
1. 缺陷早期預警: 在絕緣劣化初始階段(肉眼不可見)精準定位氣泡、裂紋、雜質、分層等微觀缺陷。
2. 可靠性量化評估: 超越傳統通斷測試,通過PD量值(pC)預測設備剩余壽命。
3. 嚴苛工況驗證: 評估器件在額定高壓、過壓、高頻開關、溫度循環等動態應力下的絕緣穩定性。
4. 全生命周期管控:
研發設計: 優化材料選型、絕緣結構(如爬電距離)、封裝工藝。
生產制造: 100%在線或抽樣測試,進行工藝監控和缺陷品剔除。
質量認證: 滿足UL、IEC、IEEE、GB等國際國內強制/準強制標準。
結論
長盛CS19013局部放電安規綜合測試儀是現代高可靠電力電子與電氣裝備不能缺少的“絕緣醫生”。其在IGBT、電子變壓器、電機、光耦等核心領域的深度應用,是保障新能源汽車、可再生能源、智能電網、工業自動化等關鍵產業安全高效運行的技術基石。隨著電壓等級提升、功率密度增大和應用環境惡化,PD測試的重要性將愈發凸顯,并持續向更高靈敏度、更強抗干擾、更智能診斷的方向演進。
長盛CS19013局部放電安規綜合測試儀
適用標準
??本系列儀器符合測試適用標準
符合IEC60270(GB/T7354)、IEC 60747-15、IEC1287標準的要求。
特別性能
??CS1901X系列局部放電綜合測試儀的特點
1.實時的Q/V、Q/t趨勢圖:可觀測實時升降壓及測試過程中的局部放電變化趨勢;
2.精準的小信號測量:可測量1pC的電量,分辨率0.1pC。細微之處,盡顯眼底
3.HVCC檢測功能:避免塑封過程及測試夾具因素導致的接觸誤判;
4.適用性廣:可適用于光隔離器、IGBT、電子變壓器、高壓繼電器、定子、線材及絕緣材料的測試;
5.測試設置靈活:可根據測試模式,自由設置測試步驟、參數,適用不同標準測試要求;
6.實時、細致的服務:及時針對客戶現場出現的測試及自動化配套問題,提供復雜環境下的測試解決方案。
測試Q-V、Q-t趨勢圖
Q-V趨勢圖:橫坐標:測試電壓,單位kV;縱坐標:放電量,單位pC,黑線:電壓上升過程的放電曲線;紅線:電壓下降過程中的放電曲線)
Q-t趨勢圖:橫坐標:測試時間,單位s;縱坐標:放電量,單位pC。
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