同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二...
TH512 半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
TH512 半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二極...
TH511半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀 參考價：面議
TH511半導體C-V特性分析儀參數(shù)測試儀簡介：TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的...
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀 參考價：面議
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，...
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器 參考價：面議
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量...
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器 參考價：面議
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容...
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40 參考價：面議
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 ...
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設計的專業(yè)測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設計的專業(yè)測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產(chǎn)品設計的專業(yè)測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀 參考價：面議
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產(chǎn)品特色：●測試參數(shù):Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
Tektronix泰克S530/S540 /S500參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數(shù)測試系統(tǒng)提供高速、靈活的配置，能夠隨...
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數(shù)分析儀 參考價：面議
吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數(shù)分析儀（參數(shù)測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-...
功率半導體參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率半導體器件靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:1. 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節(jié)，并準確計算出參數(shù)2. 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決S...
半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
LET-5000半導體靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是一款測量與分析功率靜態(tài)參數(shù)的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態(tài)參數(shù)測量解決方案。
IGCT自動測試系統(tǒng) 參考價：面議
IGCT自動測試系統(tǒng)核心是安規(guī)及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內(nèi)阻測試儀、安規(guī)測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng) 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產(chǎn)品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在...
功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)(生產(chǎn)端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)（生產(chǎn)端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產(chǎn)品開發(fā)。脈沖信號源輸...
功率半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：面議
KC3120功率半導體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態(tài)參數(shù)測試，如開通時間、關斷時間...
IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現(xiàn)IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數(shù)測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數(shù)： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
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