FT-335四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計，符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、...

雙電測四探針電阻率測試儀，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖...

FT-371四探針測試儀可以配合各類環境溫度試驗箱體使用，通過不同的測量治具滿足不同環境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理...

多功能四探針/四點探針測試儀 很流源輸出，可同時顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率；人體工程學設計...

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種...

金屬薄片低阻雙電四探針測試儀，是目前同行業中能測量到的Z小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產企業、高等院校...

四探針電阻測試儀的工作原理軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度

方阻儀/方塊電阻測試儀:大顯示屏，直觀度數，穩定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統集成使用.適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜...

FT-330四探針電阻率測試儀工作原理范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差

FT-341SJB雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析.

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種...

方塊電阻測試儀操作手冊GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

雙電測四探針電阻率測試儀，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖...

高溫四探針測試儀現貨，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良...

四點探針測試儀，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具

四探針方阻測試儀廠家，配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影...

高溫四探針電阻率測試儀通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

四探針方阻儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆...

四探針法方阻計，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 155...

四探針表面電阻測試儀，液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度...