 | 北京中航時代儀器設(shè)備有限公司 |
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詳細摘要：介電常數(shù)測試儀器/介電常數(shù)儀 價格/北京能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū) 參考價：¥16000
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詳細摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。 產(chǎn)品型號：ZJD-C所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥16000
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詳細摘要：介質(zhì)損耗測定儀（介電常數(shù)測試）對電介質(zhì)施加交流電壓，介質(zhì)內(nèi)部流過的電流 相量與電壓相量之間的夾角的余角。 ? 介質(zhì)損耗角正切 對電介質(zhì)施以正弦波電壓,外施電壓與相 同頻率的電流之間相角的余角δ的正切值--tgδ. 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1區(qū)1號 參考價：¥18000
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詳細摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀（介電性能測試儀）電介質(zhì)在單位時間內(nèi)消耗的能量稱為電介質(zhì)損耗功率，簡稱電介質(zhì)損耗。或：電場作用下的能量損耗，由電能轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌问降哪埽鐭崮堋⒐饽艿龋y(tǒng)稱為介質(zhì)損耗。它是導(dǎo)致電介質(zhì)發(fā)生熱擊穿的根源。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1區(qū)1號 參考價：¥18000
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詳細摘要：高壓電橋介質(zhì)損耗測試儀（自動介損儀）通過GB1409中的Q表法測試固體/液體絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗因數(shù)的分析儀器。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設(shè)定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低值，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為精確。 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1區(qū)1號 參考價：¥25000
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詳細摘要：QS37a型絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀是本公司推出的新一代高壓電橋,主要用于測量高壓工業(yè)絕緣介質(zhì)損耗角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經(jīng)典線路,主要可以測量各種絕緣材料在工頻高壓下的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容量（C）及介電常數(shù)（ε）。 產(chǎn)品型號：QS37a型所在地：北京房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥17000
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詳細摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用ZJD-A/B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動計算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。 產(chǎn)品型號：ZJD-A所在地：北京房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥17000
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詳細摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項重要的物理性質(zhì)。通過測定可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應(yīng)用研究。 產(chǎn)品型號：ZJD-B所在地：北京房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥17000
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詳細摘要：ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。 產(chǎn)品型號：ZJD-C型所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥18000
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詳細摘要：橡膠塑料薄膜體積表面電阻率測試儀 工廠既可測量高電阻，又可測微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準確度高。以雙3.1/2位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計和電流。量限從1×104Ω～1×1018Ω，是目前國內(nèi)測量范圍Z寬，準確度Z高的數(shù)字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4～1×10-16Ａ。機內(nèi)測試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。 產(chǎn)品型號：ati-212所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：ZJD-B/ZJD-C介質(zhì)損耗介電常數(shù)測試儀高頻Q表能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。 產(chǎn)品型號：介電常數(shù)測試儀所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥25000
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詳細摘要：ZJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀又稱介電常數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗測試儀、介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀、介質(zhì)損耗角正切測試儀、高頻/工頻介電常數(shù)測試儀。作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。測試頻率上限達到目前國內(nèi)Z高的160MHz。 產(chǎn)品型號：介電常數(shù)測試儀所在地：北京市懷柔區(qū)橋梓鎮(zhèn)興橋大街1號南樓 參考價：¥25000
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詳細摘要：介電常數(shù)測試儀的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機控制儀器，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標準頻率測試點自動設(shè)定、諧振點自動搜索、Q值量程自動轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至Z低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量時更為精確。 產(chǎn)品型號：ZJD系類所在地：北京市房山區(qū)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥25000
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詳細摘要：ZJD-B/ZJD-C介電常數(shù)測試儀（固液體）電容,電感,Q值,頻率,量程都用數(shù)字顯示,在某一頻率下,只要能找到諧振點,都能直接讀出電感,電容值,大大擴展了電感的測量范圍,而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。ZJD-B/ZJD-C*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能,能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點,自動讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動或自動轉(zhuǎn)換。 產(chǎn)品型號：所在地：北京房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)Z高的160MHz。雙掃描技術(shù)，測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入，測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 產(chǎn)品型號：ZJD-C所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)Z高的160MHz.硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：ZJD-B型介電常數(shù)測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測試精度，并增加新的功能。 產(chǎn)品型號：ZJD-B型所在地：北京市房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：ZJD-C介電常數(shù)測試儀的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。 產(chǎn)品型號：ZJD-C所在地：北京房山區(qū)經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)顧八路1號 參考價：¥15000
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詳細摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀測試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計、優(yōu)質(zhì)的介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術(shù)和智能化管理，數(shù)碼鎖定信號源頻率，諧振回路自動搜索，測試標頻自動設(shè)置技術(shù)，使得測試精度更高，使生產(chǎn)線分選測試速度大增。 產(chǎn)品型號：ZJD-A所在地：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀/北京房山區(qū)開發(fā)區(qū) 參考價：¥18000
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詳細摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測量儀符合標準： ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標準試驗方法； GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法； GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法； GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法； 產(chǎn)品型號：所在地：北京市房山區(qū)城關(guān)街道顧八路1區(qū)1號 參考價：¥18000
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北京中航時代儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品：電壓擊穿試驗儀-介電常數(shù)測試儀
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