總有機碳（TOC）分析儀離線監測系統不需要氮氣、氧氣、酸試劑及氧化劑，操作簡單、使用成本低；離線實驗室使用，滿足注射用水、純化水有機碳的測試及清潔驗證；

CPS高精度納米粒度分析儀是一臺穩定高速、高分辨的納米顆粒測量儀器。該儀器適合測量 0.005 微米（也即 5 納米） 到 75um 微米范圍的粒度。

數據采集分析軟件采用全中文圖形用戶界面，方便用戶控制測試臺和記錄測量數據，支持手動或自動編譯其測試腳本程序。

循環水智慧管理系統全天候監控，提供多維度自動管理，降低結垢/沉積/粘泥/腐蝕風險,熒光計實時監測藥劑濃度，穩定有效藥劑濃度，按需調整藥劑濃度。

F60薄膜厚度測量儀就像我們的 F50產品一樣測繪薄膜厚度和折射率，但它增加了許多用于生產環境的功能。 這些功能包括凹槽自動檢測、自動基準確定、全封閉測量平臺、...

主動式防震系統一些靈敏度很高的儀器可能是一個自然諧振頻率的被動系統，可以用主動隔振系統消除共振。

薄膜厚度測量儀：以F20平臺為基礎所發展的F10-HC薄膜測量系統，能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設計，能夠...

主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果，同時沒有共振，LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示。

薄膜厚度測量儀是為簡便而經濟有效地測試眼科減反涂層設計的定制儀器。 價格低廉， F10-AR 使線上操作人員經過幾分鐘的培訓，就可以進行厚度測量。

薄膜厚度測量儀：使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。

主動式防震臺水平自動調節功能即使負載重心偏離中心，自動的水平調節功能也可以讓心偏回來，繼續為儀器提供一個穩定的使用環境。

電阻率測量儀R50提供接觸式四點探針（4PP）和非接觸式渦流（EC）測量。電動X-Y載物臺可額外使用定制樣品架，樣品測量可達300mm的，可測量面積可達200m...

薄膜厚度測量儀-膜厚儀：Filmetrics的精密光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測...

Herz主動式減震系統平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除，干擾測量的破壞性低頻振動噪聲，幫...

F54薄膜厚度測量儀的產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米，可選擇數十種內...

薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。

AVI-600系列 主動式防震系統為緊湊型的主動隔振系統，是納米技術大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現有的需要低頻隔振功能的設備來說是不錯的選擇。

F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理，可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F3-sX系列配置10...

F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實時攝像頭，可以精確監控膜厚測量點。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測...

F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統，可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...