詳細(xì)摘要： JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100的測試范圍：各種固體材料的形貌分析、微區(qū)化學(xué)成分檢測，樣品成份的線分布和面分布分析.

詳細(xì)摘要： 桌面型掃描電子顯微鏡SEM表面分析儀IT100利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像.IT100自帶能譜,也可以分解.也是日本電子的一款掃描電鏡表面分析儀.

詳細(xì)摘要： 桌面型掃描電子顯微鏡表面分析儀利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像

詳細(xì)摘要： 掃描電子顯微鏡金屬材料表面分析儀主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài).，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像