Agilent 5110 同步垂直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 是測(cè) 量散裝原料（填充劑、粘合劑及其他賦形劑）中元素雜 質(zhì)的理想之選，并可用于口服制劑成品。這款儀器 專(zhuān)為測(cè)量挑戰(zhàn)性的樣品而設(shè)計(jì)，包括以下部件：

• 垂直炬管設(shè)計(jì)：檢測(cè)范圍更寬，只需極少的樣品稀釋 甚至無(wú)需樣品稀釋便可對(duì)復(fù)雜基質(zhì)樣品進(jìn)行測(cè)試，總 溶解固體量高達(dá) 25% 的樣品也能輕松應(yīng)對(duì)

• Vista Chip II 檢測(cè)器：具有寬波長(zhǎng)覆蓋范圍的高速檢 測(cè)器，能夠在單次測(cè)量中測(cè)量 167–785 nm 的所有 波長(zhǎng)，使用戶(hù)能夠選擇無(wú)干擾的波長(zhǎng)

• 快速分析。在不影響性能的前提下，安捷倫5110 ICP-OES同步垂 直雙向觀測(cè) (SVDV) ICP-OES 每 24 小時(shí)可測(cè)量多 2500 個(gè)樣品。5110 系統(tǒng)對(duì)于低產(chǎn)量及高產(chǎn)量實(shí)驗(yàn)室 均適用

• 可選擇不同的背景校正技術(shù)：擬合背景校正 (FBC) 和 快速自動(dòng)曲線擬合技術(shù) (FACT)。FBC 可簡(jiǎn)化方法開(kāi) 發(fā)并降低分析人員分析樣品的復(fù)雜性。FACT 可校正 光譜干擾和復(fù)雜的背景結(jié)構(gòu)

• 簡(jiǎn)便易用。直觀的 Agilent ICP Expert 軟件中附 帶用于藥物樣品中元素雜質(zhì)分析的預(yù)設(shè)方法（版 本 7.4 及更高版本）。該方法可滿足 ICH-Q3D 和 USP<232>/<233> 的要求