詳細摘要： 2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對半導體和數據存儲行業而...

詳細摘要： X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠對多種材料進行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴苛的流程控制和研發應用需求而設計，其高品...

詳細摘要： 技術參數：分析對象:4Be-92U分光系統:波長色散式X射線發生部X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW高壓發生器:高頻變頻器方式額定電壓,電流:4kW,60k...

詳細摘要： 儀器種類：多道型產地類別：進口儀器X射線光管功率：4kw分析元素種類：4Be-92U

詳細摘要： 核心參數儀器種類：掃描型產地類別：進口儀器X射線光管功率：200W分析元素種類：8O-92U

詳細摘要： 產品介紹Mini-Z 臺式波長色散型X射線熒光光譜儀(XRF)直接檢測，無需樣品前處理。

詳細摘要： 心參數儀器種類：掃描型產地類別：進口儀器X射線光管功率：40W分析元素種類：S