理想情況下，ICP-OES儀器應該具有無限的光譜分辨率，無論什么樣的樣品，各個元素的靈敏發射譜線都不受光譜干擾。對于復雜的樣品基質來說，這樣的情況常常不大可能，但是，安捷倫快速自動曲線擬合技術 (FACT) 卻將這理想變成了現實。它采用了一種高度復雜卻又易于使用的光譜建模技術，對 ICP-OES 分析棘手樣品時經常遇到的復雜分析光譜進行準確建模。

 

FACT 的優勢在于它能夠準確校正分析物波長附近的強重疊峰。在采集分析數據之前或之后都可以創建 FACT 模型，過程非常簡單，您可信心十足地應對任何挑戰性樣使用 FACT 光譜譜圖解析軟件對復雜樣品進行實時光譜校正 Agilent 5800 和Agilent 5900 ICP-OES 2 品。有了 FACT，無需對樣品做更多的處理，無需重新分析樣品，也無需因在含有大量錯誤數據的分析結果中尋找正確數據而感到心煩意亂，可大大節省您的寶貴時間。與元素間干擾校正 (IEC) 相比，FACT 的使用更簡單，功能也更強大。它還可準確校正背景，尤其適用于處理極為復雜的背景結構（傳統的背景校正技術對此往往束手無策）。

 

FACT 的工作原理： FACT 通過使用高級光譜建模技術提供實時光譜校正，以數學方式從原始光譜中解析（即分離）分析物信號，并通過分別測定預期組分以及各自的響應來建模。通常需測定如下溶液： 1. 空白溶液 2. 純分析物溶液 3. 純干擾物溶液

 

對每個光譜組分模型進行分析并擬合為高斯曲線，以獲得該譜峰的數學描述。檢驗剩余結構的殘差，如果殘差足夠大，將其擬合至其他高斯分布中。模型可表示為高斯峰與相對小的殘差之和。通過在波長范圍內監測 6 根等離子體發射譜線，可計算出在模型創建與分析應用之間可能出現的小的波長偏移或漂移。這樣可以長期保持模型的波長準確性。與 IEC 不同，采用 FACT 無需知道各溶液中分析物和干擾物的濃度。溶液濃度只要足夠高，就能輕松將其從背景中區分開（通常是檢測限的 50 倍）。圖 1 的例子示出了針對主要的鎘 214.439 nm 發射譜線構建的模型，該譜線受不太靈敏的 214.445 nm 鐵發射譜線的部分干擾。在分析土壤樣品時經常會出現這樣的情況，由于存在高濃度的鐵，所以很難準確測定痕量的鎘。

 

總結: FACT 通過使用高級光譜建模技術提供實時光譜校正，以數學方式從原始光譜中分離分析物信號。與元素間校正相比， FACT 的使用更簡單，功能更強大，它可準確校正背景，幫助您信心十足地分析光譜復雜的樣品。