Agilent 5110 ICP-OES *變革了 ICP-OES 分析。樣品通量更高、氣體 消耗更低，其的分析性能讓您輕松應對復雜樣品。5110 SVDV 擁 有*的智能光譜組合 (DSC) 技術，該技術可以在一次測量中自動選 擇并同時測定來自穩定的垂直等離子體發出的全波段范圍內的水平和 垂直方向的光。這一性能，再加上高速 VistaChip II CCD 檢測器和 創新的 SVS 2+ 切換閥，造就了*樣品通量高、每個樣品分析的 氣體消耗量小的 ICP-OES。水平觀測的垂直炬管和冷錐接口 (CCI) 等 技術使得 5110 能夠分析含有高達百分含量總溶解態固體 (TDS) 樣品， 同時擁有出色的線性動態范圍。這些性能有助于大限度減少額外的 樣品稀釋或同一樣品多次讀數的需要，進一步提高樣品通量。

傳統的雙向觀測 (DV) ICP-OES 儀器存在一定的不 足，尤其是耐用性和分析速度。大多數傳統雙向觀 測系統使用的是水平炬管，而非更耐用的垂直炬 管。這會影響炬管壽命，還會限制系統的基質應對 能力。由于需要依次進行垂直和水平觀測，分析速 度也打了折扣。與傳統 DV ICP-OES 儀器相比，帶 DSC 技術的 Agilent 5110 SVDV ICP-OES 的創新設計 消除了這兩個不利因素，可提供的分析速度和 性能。