XRF鍍層厚度測試光譜儀介紹

XRF可對鍍層厚度與成分進行快速、高效、無損和準確的分析。XRF光譜儀的主要部件：

1、X射線管：儀器的一部分，產生照射樣品的X射線。

2、光圈：光圈是引導X射線指向樣品的裝置的部分。XRF儀器中的光圈將決定光斑尺寸——正確的光圈選擇對精密度和測量效率至關重要。

3、探測器：與相關電子設備一并處理從樣品中激發出的X射線：探測X射線的能量和強度。

4、對焦系統：確保每次測量中X射線管、零部件和探測器間的X射線可測量且幾何光路連續一致；否則會導致結果不準確。

5、相機：幫助用戶定位測量區域。某些情形下相機用于向自動操作模塊提供圖像信息，或包括放大圖像以定位需要測量的區域。

6、樣品臺：樣品可放置于固定或可移動的樣品臺上。快速或慢速移動對于找到測試位置至關重要，隨后聚焦于準確的區域進行測量。工作臺移動的精準度是帶來測試定位準確的一個因素，并進而貢獻于儀器的整體準確度。

 
Think600 X熒光鍍層測厚儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。Think600鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且的更具有現代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。