近日，分析儀器企業(yè)HORIBA集團(tuán)高層代表團(tuán)蒞臨安徽吸收譜儀器設(shè)備有限公司進(jìn)行深度考察交流。
 

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　　頂尖團(tuán)隊來訪 共繪合作藍(lán)圖
 

　　此次訪問由HORIBA集團(tuán)董事小石秀幸先生帶隊，匯聚集團(tuán)CTO中村拓志博士、中國區(qū)董事長木村祐子女士等8位核心管理層成員，標(biāo)志著雙方合作邁入新階段。
 

　　座談交流期間，雙方圍繞全球XAFS技術(shù)發(fā)展趨勢、前沿科研需求、產(chǎn)品集成創(chuàng)新及海外市場布局等議題展開深入探討。RapidXAFS提出，將積極探索與HORIBA在XAFS技術(shù)聯(lián)用、聯(lián)合儀器開發(fā)、多模態(tài)分析平臺構(gòu)建以及國際市場協(xié)同推廣等方面的合作機(jī)會。雙方一致認(rèn)為，在當(dāng)前XAFS技術(shù)加速從大科學(xué)裝置向?qū)嶒炇移占暗谋尘跋拢瑥?qiáng)強(qiáng)聯(lián)合將有助于共同打造具備全球競爭力的下一代光譜分析解決方案。
 

圖1 HORIBA集團(tuán)和安徽吸收譜代表座談交流
 

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　　深度互動 見證硬核實力
 

　　隨后，代表團(tuán)實地參觀了公司位于合肥的總部及設(shè)備研發(fā)中心。詳細(xì)了解RapidXAFS在設(shè)計研發(fā)、生產(chǎn)制造和實際應(yīng)用中的各項關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢。RapidXAFS是一款由同步輻射及XAFS領(lǐng)域?qū)＜覉F(tuán)隊自主研發(fā)的高性能臺式譜儀，具備高光通量、低檢出限和寬能區(qū)覆蓋等特性，能夠在無需同步輻射設(shè)施的條件下，實現(xiàn)實驗室級別的精密XAFS/XES分析。
 

　　在參觀高性能X射線吸收譜儀、原位測試系統(tǒng)等核心設(shè)備時，HORIBA研發(fā)總監(jiān)Franck先生就設(shè)備穩(wěn)定性與數(shù)據(jù)采集效率等專業(yè)問題，與技術(shù)人員進(jìn)行了交流。實驗室規(guī)范的管理流程與創(chuàng)新的技術(shù)應(yīng)用場景給代表團(tuán)留下深刻印象。
 

圖2 代表團(tuán)參觀RapidXAFS設(shè)備研發(fā)中心
 

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　　強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合 共譜新篇
 

　　臨別之際，雙方合影留念，定格這一具有里程碑意義的時刻。此次高層互訪不僅搭建起技術(shù)交流的橋梁，也開啟了今后在技術(shù)研發(fā)、產(chǎn)品協(xié)同、市場拓展等多方面的深度合作的新篇章。安徽吸收譜將持續(xù)以開放姿態(tài)深化國際合作，攜手全球伙伴推動分析儀器行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。
 

圖3 雙方合影留念