目錄:賽默飛世爾科技（中國(guó)）有限公司>>XPS儀器>> K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2025-04-17 11:18:47瀏覽次數(shù)：316評(píng)價(jià)
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| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類(lèi) | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統(tǒng)為表面分析帶來(lái)了一種新方法。K-Alpha XPS 系統(tǒng)專(zhuān)注于使用簡(jiǎn)化的工作流程提供高質(zhì)量的結(jié)果，使 XPS 操作簡(jiǎn)單直觀，而不會(huì)犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統(tǒng)是一種集成式單色小光斑XPS系統(tǒng)，具備深度剖析能力。
更先進(jìn)的性能、更低的價(jià)格、更容易的使用性和較大的樣品測(cè)試量，使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶(hù)環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統(tǒng)使世界各地的研究人員能夠進(jìn)行表面分析。
K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 µm 至 400 µm 的分析區(qū)域內(nèi)以 5 µm 的步長(zhǎng)進(jìn)行選擇選擇 ，以尋求所需的信號(hào)。
使用K-Alpha XPS系統(tǒng)的光學(xué)觀察系統(tǒng)和XPS SnapMap聚焦樣品，幫助您快速確定分析測(cè)試區(qū)域。
使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進(jìn)行更深層表面的分析。自動(dòng)源優(yōu)化和氣體處理功能確保的性能和實(shí)驗(yàn)重現(xiàn)性。
提供與K-Alpha X射線光電子能譜儀相匹配的各種特殊樣品臺(tái)供您選擇，包括用于變角 XPS、樣品加偏壓測(cè)試，或從手套箱惰性轉(zhuǎn)移樣品等等。
高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測(cè)器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)和快速數(shù)據(jù)采集。
在K-Alpha X射線光電子能譜儀中，獲得的雙束電子源將低能量離子束與低能量的電子（小于 1 eV）耦合，防止分析過(guò)程中的樣品帶電，從而在大多數(shù)情況下消除了荷電效應(yīng)。
由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)指導(dǎo)的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶(hù)、測(cè)試中心和注重高效操作和高測(cè)試量的 XPS 專(zhuān)家的理想選擇。
| 分析儀類(lèi)型 |
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| X 射線源類(lèi)型 |
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| X 射線光斑尺寸 |
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| 深度剖析 |
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| 樣品最大面積 |
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| 樣品最大厚度 |
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| 真空系統(tǒng) |
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| 可選配件 |
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