多功能通用晶圓搬運機系統YIT系列對應各種檢查裝置，適用于晶圓、玻璃相關產品自動搬運系統

顯微鏡隔振平臺VIP-320/3200系列減少對鏡頭、分析儀器等的振動。非常適合高倍觀察和顯微鏡操作。

Photron在線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

Photron離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

工業定制鏡頭是一款高分辨率遠心鏡頭，并且該光學鏡頭 帶內同軸照明接口 ，支持至大 17.6mm 靶面相機 ，鏡頭倍率- 0.345x 。物方分辨率 2um 。鏡...

AVS高速相機短波紅外相機特點：img1G-032 TEC1千兆網視覺InGaAs相機VGA分辨率以太網供電緊湊型工業級設計無風扇設計高動態范圍

up down vision光學系統，用于半導體封裝與貼合精密對位與精密檢測

X射線熒光鍍層X射線熒光鍍層測厚儀可完成鍍層厚度測量、元素分析、電鍍液分析。最多同時測量5層（4層鍍層+底材），每層可同時分析10種元素。成分測量可同時分析25...

顯微鏡下微取樣系統CollectionPro：微小礦物自動挑選/采集/集聚系統將耗費礦物學研究者時間和精力的挑選、采集、集聚作業變得省力。通過結合圖像處理系統和...

超微小納米壓痕儀通過減少測量環境的干擾實現高數據再現性，適用于0.5uN-2000mN的廣泛實驗負載。

顯微鏡LED無掩膜曝光系統 UTA-IA系列是不需要使用光罩就可以完成曝光的Pattern投影式曝光設備。

R-Testing-72是一款高性能AR虛像成像測試-Conoscope系統，鏡頭設計靶面支持至大全畫幅43.2mm，支持相機分辨率61M（9568*6380）...

VR-Pancake 鏡片光軸相對角度測量儀主要規格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

VR-Pancake 鏡片內應力相位差測量儀主要規格視野范圍：至大φ80mm像素：至大616 x 514 畫素(約30萬畫素)測量波長：466nm,543nm,...

目前與奧林巴斯、日本photo Lattice、日本Micro Support等企業達成長期代理與合作；主要代理產品包括：奧林巴斯工業顯微鏡系列，奧林巴斯工業探...

Photron在線/離線雙折射分布檢測系統可用于防止不良品流出并迅速探知缺陷的雙折射相位差分布檢測系統KAMAKIRI

工業顯微鏡光學系統—管鏡（Tube Lens）是一款性能衍射極限的顯微鏡筒鏡，鏡頭焦距 200mm, 200mm焦距是Nikon、Thorlab、Leica、M...

8x顯微物鏡(NA 0.33 / Field 20mm)是一款性能衍射極限的顯微鏡物鏡，鏡頭是無限遠校正設計，鏡頭的焦距25mm, 匹配200mm焦距筒鏡（Tu...

10x顯微物鏡(NA 0.33 / Field 32mm)一款性能衍射極限的顯微鏡物鏡，鏡頭是無限遠校正設計，鏡頭的焦距20mm, 匹配200mm焦距筒鏡（Tu...

SVS相機HR 10GigE 系列配備高分辨率 CMOS 傳感器，可充分利用傳感器帶寬。10GigE 提供高達 1.1 GB/s 的圖像數據，距離可達 100 ...