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HEIDON新東科學耐壓型攪拌機Ex系列Ex300/Ex600/Ex1200/Ex2000/Ex3000三一電機Ex是三一電機第一款電機驅動的防爆攪拌器。我們將多年來培育的易用性、體積小、外殼緊湊的特點，在隔爆防爆設計上盡最大努力重現，從而誕生了耐壓防爆攪拌機。可以在實驗室中直接使用。配備帶聯鎖的大型安全罩，進一步提高安全性能。特征可直接使用用于三合一電機的各種攪拌葉片和軸。可靠的5年免費長期保修*需要客戶注冊全新設計的防爆外殼，即使發生爆炸也不會泄漏。與空氣式不同，攪拌操作可以在檢查轉速的同時
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【高斯摩分享】HEIDON新東科學TYPE:25W應變測試儀
【產品推薦】HEIDON新東科學TYPE:25W應變測試儀TYPE:25WS這是一種利用光偏轉的變形檢查裝置，具有高照度和寬視野，易于使用。采用變頻圓形熒光燈，閃爍少，不傷眼，長時間檢查也可放心使用。有效視場直徑達280mm，可以檢查大型標本或同時觀察多種類型的標本，便于比較和檢查。檢偏器（上偏光板：檢偏器）可旋轉，可進行暗視野/明視野觀察。有兩種測量方法可供選擇：TYPE：25W，采用正交尼科耳法，擅長觀察塑料成型品的流動狀態；TYPE：25WS，采用敏感顏色法，可觀察玻璃的微小變形等等。可以 -
界面科學儀器相互接觸的兩個固體表面相對移動時的阻力稱為“摩擦"，此時產生的阻力稱為“摩擦力"。摩擦力可分為靜摩擦力（靜摩擦力）和動摩擦力；前者是指物體開始運動前的阻力，后者是指物體開始運動后的阻力。另外，靜摩擦力表現出最大阻力（即將開始移動之前的阻力）的點稱為最大靜摩擦力。“摩擦力（F）"除以垂直作用于摩擦面的載荷（W）所得的值稱為“摩擦系數"，用“μ"表示。摩擦力的大小有時用摩擦力來表示，但更多時候用“摩擦系數（μ）"來表示。摩擦測量沒有標準的測量方法，根據試驗片的形狀和滑動形態，進行了各種組
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在液體中，分子可以相對自由地移動。然而，由于存在表面積最小化的趨勢，如果可以忽略重力等外力的作用，它就會變成球形。現在讓我們考慮在分子水平上與大氣接觸的液體。當我們關注整體中的單個分子時，“分子間力"在它與周圍分子之間起作用。因此，雖然分子之間相互吸引，但整體上相互抵消，存在于本體中的分子處于相對穩定的狀態。另一方面，當我們關注存在于表面（嚴格來說，液體與大氣之間的“界面"）上的分子時，我們發現分子間力不僅作用于體側的分子，還作用于體側的分子。然而，由于體側的分子密度gao，因此表面上存在的分子
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TORAY-RF-400-氧氣分析儀氧氣濃度計RF-400介紹：采用新型顆粒過濾器，無需將氧計從裝置上拆下即可更換。采用特殊過濾器它提高了氧傳感器的耐用性，并且可以處理各種變質物質。兼容AC100V至240V寬電源。方便的測量范圍測量范圍為0-10000ppm，常用于氮氣回流焊設備（也可選擇0-1%范圍）。緊湊且易于安裝深度比我們以前的型號更短，因此占用的空間更少。規范測量原理氧化鋯濃差電池類型形狀桌面型/面板安裝型顯示方式數字4位顯示（濃度顯示）測量范圍0-1/10/100/1000/1000
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【高斯摩分享】 日本AND 電子天平GF-A系列GF-3002A
特征標準配備2ch輸出，可與PC、打印機、PLC、外部顯示器等2ch同時連接。RS-232C接口（D-Sub9P公頭）USB接口（迷你B型）、USB電纜（1.8m）密碼功能限制天平用戶和時鐘設置的安全功能使用天平前輸入密碼有兩個級別：管理員級別，可以設置時鐘時間等所有功能；用戶級別，只能稱重（10人）。統計計算對稱重值進行統計處理并顯示/輸出結果比重測量功能計算并顯示/輸出固體或液體的比重另售的比重測量套件可使用GXA-13（最小顯示0.001g型號）/GXA-14（最小顯示0.1mg型號）UF -
高斯摩國際有售Isowatec/磯和科技，各類工業泵！在選擇單柱塞泵和多柱塞泵時，需要根據具體的應用場景和需求來決定哪個更適合。以下是單柱塞泵和多柱塞泵的一些特點和適用場景：單柱塞泵：結構簡單，在低壓運行條件下穩定性好。排量小，通常用于較低流量的場景，例如高粘度和高壓的介質。缺點是排液不連續，不均勻，但流量小，壓力高。多柱塞泵：由兩個或多個柱塞共同工作，能夠提高排量。適用于需要更高流量的場景，如液壓系統、船舶和工程機械行業等。雙柱塞泵的水壓通常在200-250kg/cm2，水量較大，可以達到20
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光譜儀是一種用于測量電磁波譜特定部分的光的特性，并且主要用于光譜分析以識別材料的設備。其主要工作原理是基于色散、吸收和散射等現象，通過對這些現象的處理和分析，可以得到與被分析物質有關的特定光譜。根據不同的工作原理，光譜儀主要分為兩類：經典光譜儀和新型光譜儀。經典光譜儀主要利用空間色散原理，而新型光譜儀則基于調制原理。具體來說，經典光譜儀器主要是狹縫光譜儀器，而調制光譜儀是非空間分光的，采用圓孔進光。根據色散組件的不同，光譜儀還可以進一步分類為：棱鏡光譜儀衍射光柵光譜儀干涉光譜儀
