詳細摘要： Hitachi 二手SU5000熱場式場發射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。

詳細摘要： Hitachi 二手 SU-5000場發射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學系統，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區分析及材料研究。其“EM Wizard"界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領域。

詳細摘要： 二手 日立 SU-5000 熱場發射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉，影像依然保持居中和聚焦。

詳細摘要： 二手 蔡司 sigma300 場發射電鏡分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

詳細摘要： 二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡

詳細摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場發射電鏡具有的功能，適用于各種固態樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： SU-8010 日立二手冷場發射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手 日立S-4800冷場發射電鏡觀察和檢測體相及納米結構的固態無機材料（非磁性）等表面形貌和組成

詳細摘要： 二手 日立 S-4700 冷場發射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對樣品進行微區成分分析。

詳細摘要： 二手 日立 SU-8010 冷場發射電鏡真空系統采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設備的真空度高達10-8Torr。該設備在高倍模式下放大倍數100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時達到1.0nm，在加速電壓1KV時達到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

詳細摘要： 二手 日本電子 場發射電鏡SEM+EDX:場發射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征.

詳細摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場發射電鏡 ?是一種優良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發射電子源和電子光學系統。場發射電鏡利用強電場作用，使得電子通過量子隧道效應逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統的熱發射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實現更高的分辨率。

詳細摘要： 二手FIB+雙束FIB+場發射電鏡在高科技領域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術的企業，其產品在全球范圍內被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業的第三方供應商，現提供現貨供應的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細摘要： 二手SEM+EDX場發射電鏡:超高分辨率：場發射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠實現表面形貌觀察和成分分析。

詳細摘要： sigma500 二手蔡司場發射電鏡是蔡司公司推出的高性能設備，它采用成熟的GEMINI光學系統設計，分辨率超過0.8nm，能提供優秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設備專注于EDS幾何學設計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應用程序，獲取微小粒子、表面、納米結構等多種圖像信息

詳細摘要： 二手日立SU-8010場發射電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

詳細摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場發射掃描電鏡場發射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態進行詳細檢查。SEM的主要優點之一是能夠實現高分辨率成像。

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發射掃描電子顯微鏡技術和方案。

詳細摘要： 二手蔡司冷場電鏡，二手熱場場發射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。