詳細摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點為全數字化控制系統，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學、研究院所及制造業被廣泛使用。

詳細摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產生二次電子等信號，通過檢測這些信號來獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優點是分辨率高，可觀察到納米級別的細節，景深大，能清晰呈現三維形貌，可同時進行成分分析。

詳細摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀分析工具，能夠實現對樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學、生物醫學、地質學等多個領域的研究提供了強大的技術支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿足不同研究領域的精細觀察需求。

詳細摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有所提高

詳細摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

詳細摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產品均可滿足工業工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

詳細摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內透鏡設計，卻能達到分辨率，可以與內透鏡UHR掃描電鏡相媲美。